École thématique
Analyse structurale par diffraction des rayons X, cristallographie sous perturbation

du 10 au 15 septembre 2006, Nancy (France)

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Informations générales

Public :

Chercheurs, enseignant-chercheurs, étudiants en thèse, ingénieurs

Objectifs :

• Donner les bases de la détermination de structures cristallines par diffraction des rayons X sur monocristal
• Familiariser avec les méthodes de détermination et d'analyse de structure cristalline sous perturbation

Thèmes abordés :

• Mesures de diffraction de rayons X
• Réduction de données (absorption, extinction)
• Résolution et affinement de structures cristallines
• Analyse structurale : utilisation de bases de données, agitation thermique
• Diffraction de rayons X sous perturbation (excitation lumineuse, pression)
• Ateliers pratiques : utilisation de logiciels cristallographiques

Intervenants :

• Robert Blessing (Hauptman-Woodward Institute, Buffalo, USA)
• David Watkin (University of Oxford, UK)
• Hans-Beat Bürgi (Université de Bern, Suisse)
• Philipe Guionneau (Institut de Chimie de la Matière Condensée de Bordeaux, France)
• Jean Claude Daran (Toulouse, France)
• Claude Lecomte (Université de Nancy, France)
• Sébastien Pillet (Université de Nancy, France)
• Massimo Nespolo (Université de Nancy, France)
• Slimane Dahaoui (Université de Nancy, France)

Hébergement :

L'hébergement et les cours se tiendront à l'Abbaye des Prémontrés à Pont à Mousson

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