• Applications de la technique de diffraction des rayons X
• Équipements de diffraction X
• Études cristallographiques sous contraintes externes

Diffraction sur un monocristal :

• Mesure des intensités diffractées par les monocristaux minéraux, organiques et organométalliques soumis à un rayonnement X pour déterminer avec précision la position des atomes au sein du cristal.
• Il est ainsi possible d'atteindre avec précision les paramètres géométriques et conformationnels des molécules, les liaisons intra et intermoléculaires et les modes d'association moléculaire.
• À basse température, des mesures très précises sur des composés de dimension moyenne peuvent donner des informations sur les caractéristiques de la densité électronique et donc sur les liaisons chimiques et leurs relations avec les propriétés physiques.
• L'étude du comportement structural des matériaux sous contraintes de champs électriques ou d'excitation LASER.
• La détermination de la configuration absolue des molécules, les charges des atomes et le calcul des potentiels électrostatiques.

Diffraction sur une poudre polycristalline :

Les utilisations du diffractomètre pour poudres concernent principalement:

• La détermination de la structure de nouveaux composés de tout type (organiques, organométalliques, minéraux)
• Les études de transitions de phases (en température: 11<T<315K, sous irradiation)
• La détermination précise de paramètres de maille (ex.: minéraux argileux)
• L'identification de phases cristallines, même avec une grande maille (ex.: zéolithes, mésoporeux) sur des quantités faibles d'échantillon (m<0,1g, portoir «zéro background»)
• L'analyse quantitative sur des mélanges de phases
• Les études de texture et d'orientation préférentielle (dans certains cas)