Mesure de la désorientation de couche mince ZnO / Si

But : mesure de la désorientation de ZnO / Si

Utilisation des film minces de ZnO : filtres RF, oscillateurs Inclinaison ZnO / Si <=> excitation de modes de cisaillement (coefficients de couplages plus élevés / mode longitudinal)

Mesure : Diffractomètre monocristal utilisé pour les couches minces : Nonius Kappa CCD Mo Kα, détecteur CCD

• Photocristallographie
• Affinement de la densité de charge de petites molécules
• Études des propriétés physiques de composés à transferts de charges
• Diffraction sous champ électrique
• Mesures de diffraction sur des couches minces
• Oligomères d'urée et pseudo peptides à base d'urée